ISO-Meeting stellt Weichen für weltweite RFID-Spezifikation

23. Juli 2008, 7:26 Uhr | Archiv

(23. Juli 2008 – jb) Entscheidende Schritte für die Standardardisierung von Barcode und RFID im übergreifenden Supply-Chain-Management hat das diesjährige ISO/IEC JTC1/SC 31 Plenary Meeting in Toronto erzielt. Heinrich Oehlmann, AIM-Liaison und Obmann DIN NA 043-01-31, berichtet in der aktuellen Ausgabe von „RFID im Blick“ über die wichtigsten Ergebnisse des 5-tägigen Expertentreffens.

 

Als „Meilenstein für die potenzielle Anwendung von RFID in offenen Lieferketten“ bezeichnet der Experte die Spezifikation des RFID Air Interface“ (Luftschnittstelle). Nach langer Verzögerung kommt die Spezifikation für den UHF-Bereich ISO/IEC 18000, Teil 6 nun kurzfristig als abschließender Komitee-Entwurf zur Abstimmung. Diese Spezifikationen enthalten die gemeinsamen Merkmale, die bisher „EPC“ vorbehalten waren. Damit lässt sich weltweit mit einer einzigen RFID-Spezifikation arbeiten, wenn UHF eingesetzt werden soll.

Maßgeblich Fortschritte haben auch die Aktivitäten von AIM-Deutschland erzielt, ein „RFID-Emblem“ über ISO in die internationale Normung zu bringen. Das Dokument zum RFID-Emblem ist mit dem direkten Input von AIM-Deutschland entstanden. Es enthält nicht nur einen allgemeinen Hinweis auf das Vorhandensein eines RFID-Chips, sondern auch Kennbuchstaben als Anwendungs- und Technologiehinweis für Frequenz und Informationstyp. Die grundsätzliche Abstimmung für ein Emblem ist erfolgt, das erste Dokument mit Basis-Emblem und Liste der Varianten ist eingereicht, als nächstes wird über Details diskutiert werden.
„Wie auch das Dokument am Ende aussieht, das Emblem selbst ist bereits in den RFID-Anwendungsstandards der ISO 1736x-Serie enthalten. AIM-Deutschland mit seinen Mitgliedern wird das RFID-Emblem forcieren, zumal die Ideen nach Logos für RFID sehr individuell sprießen“, so Heinrich Oehlmann.

Alle weiteren Ergebnisse zu Einzelthemen der Arbeitsgruppe 4 (WG4) zu RFID finden sich in der aktuellen Juliausgabe von „RFID im Blick“.

Link:
www.rfid-im-blick.de

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Florian Meier

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